T.C.

MANİSA CELAL BAYAR ÜNİVERSİTESİ REKTÖRLÜĞÜ

Bilimsel Araştırma Projeleri Koordinasyon Birimi

Sayı    : 75602888.604.01.05-

Konu  : Yaklaşık Maliyetle İlgili  Fiyat Talebi.                                                                 11 / 10 / 2018

Üniversitemiz Öğretim Üyesi Doç. Dr. Mustafa ESKİCİ’nin 2018-171 nolu alt yapı projesi içinaşağıda cinsi ve miktarları belirtilen malzeme 4734 sayılı Kamu İhale Kanununun3. maddesi f bendi uyarınca yapılacak alımlar için 2003/6554 sayılı BakanlarKurulu ekindeki esas ve usullerin 19. maddesine göre ihalesi yapılarak satınalınacaktır.

Aşağıda belirtilen malzemenin KDV Hariç TL cinsinden fiyatlarını yazarak veya fiyatları belirtenproforma faturaların en geç 16.10.2018tarihi mesai saati sonuna kadar Manisa Celal Bayar Üniversitesi BilimselAraştırma Projeleri Koordinasyon Birimine ya da 0 236 201 14 47 numaraya faks gönderilmesi hususunda gereğini ricaederim.

Satın Alınacak Malzemeler: 

Teslim Süresi: İhale onayına takiben yapılacak sözleşme tarihindenitibaren ... gün içinde

Nakliye: Satıcı Firmaya aittir.

Sigorta: Satıcı Firma tarafından yapılacaktır.

Teslim Yeri: Manisa Celal Bayar Üniversitesi Deneysel FenBilimleri Uygulama ve Araştırma Merkezi

Teklifin Geçerlilik Süresi:... Gün olacaktır.

                                                                                                                              Ömer VAROL

                                                                                                                         BAPŞube Müdürü

Not:Vereceğiniz Teklif veya Proformaların aslının tarafımıza gönderilmesigerekmektedir.     

ADRES   : Manisa Celal BayarÜniversitesi Rektörlüğü  - RektörlükBinası ABlok 2. Kat Oda:203     Muradiye /  MANİSA

TEL         : (236) 201 10 58  FAX :(236) 201 14 47         Bilimsel Araştırma Projeleri KoordinasyonBirimi

MANİSA CELAL BAYAR ÜNİVERSİTESİ

TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOP(SEM)

TEKNİK ŞARTNAMESİ

Bu teknik şartnamede yer alan sistem; Her türlübiyolojik ve tıbbi materyaller, seramikler, çimento, beton, çimentolukompozitler, toprak-kayaçlar, metaller ve alaşımları, cam ürünleri, kağıtürünleri, polimerler, plastikler, korozyon ürünleri, tekstil ürünleri, her türlif yapılı karbon, pamuk ve sentetikler vb. örnekleri, iletken ve iletkenolmayan örnekler üzerinde herhangi bir ön hazırlık gerektirmeden  önerilen haliyle veya özel uygulamalar içingerekecek ek opsiyonlarla inceleyebilme ve uygun yazılım özelliklerinesahip  bir sistem olmalıdır.

GENEL ÖZELLİKLER:

1.       Cihaz ve ekipmanlarının kullanımı ve bakımı ile ilgilidokümanlar (kullanma kılavuzu, kullanma talimatı,  katalogları vb.) orijinalleri ile birlikteeksiksiz olarak verilmelidir.

2.       Sistem üzerindeki parçaların marka, model venumaraları gibi detayları verilmelidir. Tüm sistemler önceden tanıtım nedeniylede olsa kullanılmamış ve seri numaraları değiştirilmemiş, orijinal fabrikadanpaketli olmalıdır.

3.       Taramalıelektron mikroskobu yazılım ve donanım özellikleri bakımından ileride,Lithography, Tensile Stage gibi aksesuarların veya yazılımların eklenmesiylegeliştirilmeye uygun tasarlanmış olmalıdır.

4.       Cihaz, kataloğunda belirtilen standart aksesuarları,bağlantı parçaları, bağlantı kabloları ve emniyetli çalıştırılması için gerekliaksesuarları ile eksiksiz olarak verilmelidir.

5.       Tedarik edilecek tüm donanım 220 ± %10 Volt AC, 50-60Hz frekans ile çalışmalı, veya bu özelliklerde çalışabilecek şekilde  yapılandırılmalıdır.

6.       Düşük vakum koşullarında çalışma değeri en az 500 Paolmalıdır. Ayrıca bu sistem değişken vakum koşulları altında herhangi bir önhazırlık (kurutma, parlatma, kaplama) gerektirmeden çalışabilmelidir. Sistembir vakum koşulundan diğerine kolayca bir fare hareketi ile geçebilmelidir.

7.       Elektron yavaşlatma özelliğine sahip olan sistemelektron demetine hassas  numunelerinincelenmesine ve çok hassas yüzey topografik resim almaya olanak sağlamalıdır.

8.      Yüklenici firma,garanti süresi bitiminden itibaren geçerli olmak üzere, ücreti karşılığı 7(yedi) yıl süre ile servis ve yedek parça sağlamayı garanti etmelidir.

9.      Teknik şartnamenin tüm maddelerine“EVET-HAYIR” şeklinde değil ayrıntılı olarak cevap verilmeli, teknik şartnamedebelirtilen tüm maddeler orijinal katalog, belge veya resimler üzerindegösterilmelidir.

10.   Cihazın kurulumu veteslimi aşamasında firma tarafından cihazın kullanımı ve bakımı ile ilgili enaz 5 gün uygulamalı eğitim verilmelidir.

11.   Cihaz kurulduktan4-6 ay sonra firmanın uygulama mühendisi tarafından cihaz başında kullanıcılarileri düzey uygulama eğitimi verilmelidir.

TEKNİK ÖZELLİKLER:

A-     KONFİGÜRASYON

1.       Cihaz; aşağıda verilen kısımlardan oluşmalı ve firmanınürettiği en son güncel model olmalıdır.

                               I.           Numune giriş bölmesi,

                            II.           Elektron kaynağı, 

                          III.           Dedektörler,

                          IV.           Vakum sistemi,

                             V.           Görüntüleme ve Bilgi işlem ünitesi

Kısımları olmalıdır.

2.      Cihazile;

a)       iletkennumuneler ve yüksek vakumda çalışılmaya uygun hale getirilmiş (kaplamavs. işlemler ile) yalıtkan numuneler yüksek vakumda,

b)      iletkenolmayan, yarı-iletken, organik, inorganik, vs. numuneler düşük vakumda,en az 500 Pa’a kadar genişletilebilen vakum koşulları altında, parlatma,kaplama vb. bir ön hazırlık gerektirmeden çalışılabilme özelliğinde olmalıdır.

3.      Cihaz ile birlikte;

a.      Bir adet -20^oC ile +50 ^oCarasında çalışabilen peltier stage ve sıcaklığı ayarlayabilir ve kontroledebilir bir adet en az 1050 ^oC’lik yüksek sıcaklık tablasıverilmelidir.

b.      Cihaza uygun ve yeterli kapasitede basınçlıhava kompresörü ve su soğutma sistemi verilmelidir.

I.                   Numune GirişBölmesi: Cihazın tüm fonksiyonları programdan kontrol edilebilirolmalıdır. İstenildiğinde odaklama, astigmatizm, büyütme, kontrast ve parlaklıkgibi ayarlar manuel olarak yapılması için kontrolür verilmelidir.

a)      Cihaz üzerinde en az 1 adet 9 yuvalı ve en az 12mm çapta stub yerleştirilebilen farklı karakterde ve büyüklükte numuneyerleştirmeye imkân veren numune tutucu olmalıdır.

b)     Numune odasında en az 12 adet aksesuar bağlama portu bulunacaktır.

c)      Numune odası tablası Eucentik özellikli enaz 5 aksda motorize ve bilgisayar kontrollü olacaktır.

d)     Numune odası genişliği en az 330 mmolmalıdır.

e)       Numune tablası hareketleri minimum X=110mm,Y=80 mm

f)       Numuneler kaplamadan da incelenebilmelidir.

g)      Sistemin numune odası en az 100 mm çapındaörnek alacak şekilde olmalıdır, sistem en az 30 mm yüksekliğe kadar numunealabilmelidir. Sistemin numune odası ve tablası en az 100 mm çapında örnekalacak ve 100 x 100 mm lik örnek yüzeyinin tümünü numune yerinden çıkarılmadaninceleme imkanı verecek olmalı, en az 30 mm yüksekliğe kadar numunealabilmelidir.”

I.                                Elektron kaynağı

a)      İvmelendirmeVoltajı en az 20 V ile 30 kV arasında ve en az 10 V veya daha azaralıklarla yazılımdan sürekli ayarlanabilir olmalıdır.

b)      Cihazınelektron tabancası yüksek çözünürlükte ve en iyi kontrastta görüntü alabilmesiiçin FEG tabancalı olmalıdır. 2 yılsüre için gerekli FEG emitter firma tarafından sağlanmalıdır. FEG tabancasıömrünün bitmesine yakın firma tarafından ücretsiz olarak 2 kez yenisi iledeğiştirileceği taahhüt edilmelidir.

c)       Çözünürlükdeğerleri en fazla aşağıdaki gibi olmalıdır:

1.) Yüksek Vakumda: 0.7 nm@ 15kV (SE)                 

                                                0.9 nm @ 1kV (SE)        

                                                1.0 nm @ 1 kV (SE) (Elektron Yavaşlatmaolmadan)

2.) Düşük Vakumda : 1.7 nm @ 3kV (SE) veya 1.2 nm @ 15 kV (SE)

     d) Elektron mikroskop sisteminin prop akım değeri en az 100nA olmalıdır.

II.                 Dedektörler

-        Taramalı elektron mikroskobu için aşağıdalistelenen detektörler ve numune odasını gözlemlemek için IR-CCD kamera standartolarak sistemle beraber verilmelidir:

-        Yüksek vakum ETD dedektörü

-        Yüksek vakumda çalışabilen geri çağrılabilir 4segmentli BSE dedektörü

-        Yüksek vakum InLens SE dedektörü

-        Yüksek vakum InLens BSE dedektörü

-        Düşük vakum InLens SE dedektörü

-        Düşük vakum In-lens BSE dedektörü

-        BF, DF ve HAADF modlarına sahip geriçağrılabilen STEM dedektör

-         Katodolüminesans dedektörü

-  Energy Dispersive X-ray Spektrometresi (EDS) Cihazlabirlikte sistemle tam uyumlu olarak teslim edilmelidir.

InLens SE ve BSEdetektör sistemleri ile manyetik numuneler sorunsuz incelenebilmelidir.

IV. EDS/EDX (EnerjiDağılımlı X-Işını Spektrometresi) Teknik Şartnamesi

a) Taramalı elektron mikroskobu ile birlikte 1 adet EDSsistemi verilmelidir. Bu sistem sıvı azot gerektirmemeli, kaplanarak ya dakaplama gerektirmeden kalitatif, kantitatif ve standartsız yarı kantitatifanaliz yapabilmeli, belirlenmiş nokta veya hat boyunca veri toplayabilmeli,seçilmiş alanda aynı platformda aynı anda EDS çalışması yapabilmeli, seçilmişalanda x-ışını haritalaması yapabilmeli ve periyodik cetvele göre ₅B- ₉₂U arasındaki elementleri algılayabilmelidir.

b) Detektör aktif alanı en az 70 mm² olmalıdır.

c) Çözünürlüğü en az 127 eV veya daha iyi olmalıdır.

d) EDS detektör peltier soğutmalı sıvı azot gerektirmeyen SDDtip olmalıdır.

e) En az 100.000 cps’ye kadar çözünürlüğü en az %90 kararlıkalmalıdır. Na, Al, Si gibi elementlerde K, L piklerinde darbe yığılmayıetkisiz hale getirmelidir.

f) Detektör penceresi SUTW (Super Ultra Thin Window)olmalıdır.

g) Sinyal gürültü oranı 9000:1 veya daha iyi olmalıdır. Aynızamanda ISO15632:2000 önermelerine uygun olmalıdır.

h) Sistem en az 1,600,000 cps ye varan sinyal yoğunluklarındasature olmadan çalışabilmeli ve bu sinyallerin en az 800.000 cps’ ye kadarkısmını inceleyebilmelidir.

i) EDS yazılımı bulunan piklerin hangi elemente ait olduğunuotomatik olarak bulabilmelidir ve SEM numune tablası EDS arayüzü üzerinden dekontrol edilebilmelidir.

j) Bulunan elementlerin kontrol edilmesi için spektrumunnasıl olması gerektiğini gösteren bir fonksiyonu olmalıdır.

k) Bilgi toplama yavaşlamadan eş zamanda EDS yapabilme imkanıolmalıdır

l)  Data toplama-işlememodülü ve raporlama yazılımına sahip olmalıdır.

r) CSV, PDF ve XML formatlarında raporlama yapabilmeli,kişiye özel rapor formatları oluşturabilmelidir.

s) Sistemle birlikte en az bir adet en az aşağıdakikonfigürasyonda masaüstü bilgisayar ve 24" HDMI girişli LCD monitörverilmelidir:

III.              Vakum sistemi

a)       Vakumsistemi için teklif edilen sistem tamamen otomatik olmalı ve değişken basınç enaz 500 Pa’a kadar 10 Pa aralıklarla ayarlanabilir olmalıdır.

b)      Cihazdagerekli olduğu koşullarda düşük basınç ayarlaması su buharı ve hava ile olmalı,istenilmesi halinde opsiyonel olarak azot, CO₂ vs... gazları dakullanılabilmelidir.

c)       Cihazvakumunu min. iki basamaklı en az 6 m³/saat kapasiteli rotary pompave ince vakumunu minimum 200-220 L/s kapasiteli Turbo Molecular Pompa ilesağlamalıdır.

IV.              Görüntüleme ve Bilgi işlem ünitesi:

a)      İncelenen örnekler üzerinde istenildiğinde görüntülerialınarak otomatik olarak kaydedilebilmelidir.

b)      Sistem için bir edet en güncel konfigürasyondaBilgisayar ve 24” LCD Monitör verilmelidir. Ve Sistem ile birlikte bir adet 42”LCD TV verilmelidir.

c)      İnceleme sırasında istendiğinde yüksek çözünürlüklüvideo kaydı yapılabilmelidir.

Cihazın işletimyazılımında olagelen güncellemeler, (Softwarede yeni versiyonlar) garantisüresi içinde talebe bağlı olmadan ücretsiz, garanti süresi dışında ücretkarşılığında yapılmalıdır.

d)      Cihaz ile birlikte numune tablası ile tam uygunNavigasyon Kamerası verilmelidir.

Büyütme en az2.000.000X’ye kadar ve devamlı büyütme (Continuous Magnification) olacaktır.

e)      Cihaz yazılımı en az 255 frame ortalama veyaintegration alabilmelidir.

f)       Drift Correction yazılımı cihaz ile birlikteverilmelidir.

g)      Cihaz görüntü annotasyonu yapabilmeli ve çizgi,noktadan noktaya, açı ve radyal ölçümler yapabilmelidir.

h)      Sistemile birlikte bir adet destek bilgisayarı ve 24“ LCD Monitör verilmelidir.Destek Bilgisayarın özellikleriaşağıdaki gibi olmalıdır.

• Intel i7 8700K işlemci,
• Intel Z170 soket 1151 anakart, HDMI çıkış (üzerinde usb 2.0, 3.0, 3.1 girişi/çıkışı olan)
• 4Gb harici ekran kartı
• (2x8 Gb) 16Gb DDR4 ram, 1 TB SSD (min. 450R x 450 W) hard disk
• Lisanslı Win7 veya üzeri versiyon - 64 bit ve Office 2013 profesyonel veya üstü versiyon.
• Wireless klavye ve Mouse
• DVD-R ve DVD-RW SATA yazıcı.

V.                 Numune Hazırlama Ekipmanı:

Sistemle beraber verilecek aşağıda belirtilen yardımcı cihazlar Avrupastandartlarının gerektirdiği tüm güvenlik standartlarını içermelidir.

1)      Sisteme uygun Au/Pd sputter kaplama cihazı, karbonfiber kaplama ataşmanı ile en az 100 m yedek karbon fiber ve 1 adet yedek Au/Pdhedef verilmelidir. Ayrıca sistemle beraber ozon temizleyicisi ve yedekparçaları verilmelidir.

2)       TamOtomatik, peltier-termo elektrik ısıtma, adiabatik soğutma ve manyetikkarıştırıcılı 32 mm çap ve 47 mm yükseklik özellikli dikey tip numune hücreliKritik Nokta Kurutucusu verilmelidir. Ayrıca gerekli sarf malzemeler, basıncadayanıklı hortum, 12 sepetli numune tutucusu sistemle birlikte verilecektir.